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創控科技 SEMICON Taiwan 推次世代 AMC 微污染量測技術

創控科技於SEMICON Taiwan發表次世代AMC微污染量測技術應用。圖/公司提供
創控科技於SEMICON Taiwan發表次世代AMC微污染量測技術應用。圖/公司提供

創控科技(6909)今(6)日預告,在2023 SEMICON Taiwan 國際半導體展期間,在南港展覽館二館1樓(攤位Q5744),展示台灣唯一微型 VOCs 精密檢測儀 MiTAP,把實驗室檢測等級的設備微型化搬至展場內,模擬現地即時、連續檢測的場景,並將於首次對外發表「次世代 AMC 微污染量測技術應用」。

創控科技表示,隨著半導體製程演進,晶圓線寬持續降低,受到氣體分子沉積的影響就會越明顯,此時微污染監控就日顯重要。創控團隊持續與先進製程廠商齊步同行,導入AI技術突破創新,發展「無人搬運車(AGV) 」與「Smart FOUP」兩大應用平台,並於 SEMICON Taiwan 的創新技術發表會 TechXPOT 舞台首次對外發表「次世代AMC微污染量測技術應用」。

創控科技表示,原先 MiTAP 產品藉由客製化且24小時連續檢測,已滿足各大半導體廠商的各種需求,成為製程不可或缺的一環;不過為了更精準掌握每一個製程潔淨度變化,創控將 MiTAP 結合無人搬運車(AGV)平台,運用AI技術讓智慧巡檢機器人可以跟著製程移動,做到現地一條龍檢測,有效掌握製程環境變化;Smart FOUP 平台則是將分析設備結合自動化物料搬送系統(AMHS),檢測晶圓每一個移動路徑,包含氣體潔淨度(TVOCs)、溫度、濕度、震動等晶圓須注意之環境條件。

創控科技表示,MiTAP 系列產品提供 Lab-to-Fab 氣體分子污染物(AMC)監測方案,憑藉「特定多項目標化合物分析」、「現地即時檢測」等技術,偵測極限達到大型實驗室標準等級,創造出兼具移動性、即時性、高頻率監測分析。隨著半導體製程持續微縮,微污染監測指示會越趨嚴格及多元,創控科技的監測方案,將協助客戶創造產品競爭優勢與價值,並能符合國際環保法規。

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