Intel在測試晶片中實現PowerVia供電設計超過90%單元利用率

聯合新聞網 楊又肇

先前說明將用於Intel 20A (埃米)製程的RibbonFET電晶體技術與PowerVia供電設計,Intel稍早說明在類產品測試晶片實作中,PowerVia供電設計實現超過90%的單元利用率。

PowerVia供電設計是將電源迴路移到晶圓背面,藉此解決晶片面積持續微縮情況下的電路連接瓶頸,而此次測試更實現超過90%的單元利用率,讓晶片設計人員能夠在產品中提升效能和效率。

而此次測試更利用EUV (極紫外光)微影設計規則,並且在晶片面積上達成超過90%的標準單元利用率,藉此提高單元密度,同時也降低成本。同時,此測試更凸顯平台電壓下降幅度超過30%,以及6%的頻率優勢。

另外,Intel也將針對邏輯單元微縮伴隨的高功率密度,在PowerVia測試晶片達成所需散熱效果。

Intel預計在2024年將PowerVia與RibbonFET環繞式閘極 (gate-all-around)技術用於晶片產品,分別用於Intel 20A和Intel 18A製程技術。

《原文刊登於合作媒體mashdigi,聯合新聞網獲授權轉載。》

楊又肇

曾任聯合新聞網 (udn.com)數位頻道記者,目前為自由寫手與Mas...

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